質譜儀是測帶電粒子質量和分析同位素的一種儀器,如圖8-2-24所示.它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關規律計算出帶電粒子質量.圖中虛線為某粒子運動軌跡,由圖可知 ( ).
A.此粒子帶負電
B.下極板S2比上極板S1電勢高
C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大
D.若只增大入射粒子的質量,則半徑r變小
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(2012·長沙市一中月考)質譜儀是測帶電粒子質量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關規律計算出帶電粒子質量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子運動軌跡,由圖可知( )
A.此粒子帶負電
B.下極板S2比上極板S1電勢高
C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大
D.若只增大入射粒子的質量,則半徑r變大
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(2012·長沙市一中月考)質譜儀是測帶電粒子質量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關規律計算出帶電粒子質量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子運動軌跡,由圖可知( )
A.此粒子帶負電
B.下極板S2比上極板S1電勢高
C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大
D.若只增大入射粒子的質量,則半徑r變大
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A.此粒子帶負電
B.下極板S2比上極板S1電勢高
C.若只增大加速電壓U值,則半徑r變大
D.若只增大入射粒子的質量,則半徑r變小
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